قسمتی از اسلایدها

روش فلور سانس پرتو ايکس يکي از روش هاي آناليز عنصري است که امروزه از آن به طور وسيعي در صنعت و مراکز پژوهشي استفاده مي شود.

اين روش به ويژه به خاطر سرعت زياد در شناسايي عنصر، براي برخي صنايع ضروري است اما دستگاههاي  XRFاز نظر سرمايه گذاري ابتدايي هزينه بالايي نياز دارند. بنابراين همه مراکز صنعتي و آزمايشگاهي توان خريد آن را ندارند.

حد تشخيص (Detection Limit) دستگاه XRF درحد صدم درصد مي باشد.

 XRFتقريبا تمامي عناصر جدول تناوبي از برليم تا اورانيوم (البته جز گازهاي نجيب) را اگر مقدار اين عناصر درحد تشخيص باشد مشخص مي کند.

  بلور آناليز کننده

بلورفلوريد سديم (NaF) بيشترين کاربرد را در اين دستگاه ها دارد زيرا اين بلور توانايي شناسايي عنصرهاي از پتاسيم تا اورانيوم را دارد.

مواد ديگري که به عنوان بلور آناليز کننده در دستگاه هاي  XRFاستفاده مي شود بلور ژرمانيم است که براي شناسايي عنصرهاي از فسفر تا کلر به کار مي رود. ترکيبات پليمري نيز براي شناسايي عنصرهاي سبک مفيد ترند.

امروزه در دستگاههاي XRF براي پرهيز از جابجايي پيوسته بلور هاي آناليز کننده آنها را بر روي يک منشور چند وجهي سوار مي کنند و بدين ترتيب با چرخاندن منشور بلور مورد نظر به راحتي در برابر پرتو ايکس قرار مي گيرد.

فهرست مطالب و اسلایدها

مقدمه

اجزاي دستگاه XRF

اساس کار دستگاه XRF

آماده سازي نمونه

انواع دستگاه هاي XRF

جمع بندي